###COOKIEFRAME###
###COOKIEBUTTON###
###COOKIEINFO###

Tarayıcı elektron mikroskopları(SEM) için ZHN/SEM Nano İndantör

Tarayıcı elektron mikroskoplarının vakum kabinleri koşullarında kullanımı için özel olarak geliştirilmiştir. Ölçüm başlığı, daha iyi bir kuvvet çözünürlüğü sağlayan yeni bir tasarım prensibine sahiptir. Bunun yanı sıra; kuvvet aralığı müşterilerimizin talepleri doğrultusunda adapte edilebilirdir. Vakum bölmesi duvarına monte edilmeye uygun değildir, fakat tarayıcı elektron mikroskoplarının aşamalı numune vb. için direk monte edilebilir. Bu şekilde, eğme ve hareket kabiliyetleri kullanılabilir duruma olmaktadır. Bununla beraber, farklı bir versiyonda, kabin duvarına uygun bir flanş ile bağlantı sağlamak mümkündür. Ayrıca, elektrik bağlantıları için yeteri kadar büyüklükte boş bir flanş da gerekmektedir.

Cihazın opsiyonel bölümü, X-Y yönünde indenter ucu numune hareketini sağlayan masa sistemi ve ölçüm başlığının numune ön yüzeyinde Z yönü hareketini sağlayan mekanik rijit bir masa seçeneklerinden oluşmaktadır. Bu masa sistemi, SEM numune tutucusu ölçüm başlığına sabitlendiğinde gereklidir.

Kuvvet ve yol ölçümleri için sensör olarak indüktif transdüser (LVDTs) kullanılmıştır. Güç üretimi piezoelektrik eleman tarafından oluşturulur ve doğrudan yayların sapmları üzerinden ölçülür.

Duraklatma fonksiyonu sayesinde, görüntü almak için test durdrulabilir ardından tekrar programlanan ölçüm işlemine devam edilebilir. Duraklatma esnasında da, kuvvet veya hareket kontrol edilir.

Başlığın bir diğer özelliği ise itme ve çekme yönünde tam kuvvet aralığında uygulama sağlamasıdır. Bu sebeple geleneksel bir nano indentasyonun (Sertlik ve elastik modül ölçümleri) yanı sıra mikro basma ve mikro çekme testleri olarak da kullanılabilmektedir. Böylece yüksek çözünürlüklü test aşaması gözlemlenirken deformasyon süreçleri de gözlemlenebilmektedir.


İletişim Formu
Konu*
Ülke*
* Zorunlu Alanlar